发现非隔离探头隐藏的快速震荡的信号。IsoVu™探头技术实际上通过光学隔离消除了共模干扰。这样就可以按100V/ns或更快的速度在±60kV的基准电压上提供精确的差分测量。借助我们的IsoVu Generation 2设计，您能获得IsoVu技术的所有优势，但大小仅为原来探头尺寸的1/5。
IsoVu Gen 2探头凭借多功能MMCX连接器以及无与伦比的带宽、动态范围和共模抑制组合，为隔离探头技术设定新的标准。
隔离探头使用电（光学）或RF隔离将探头的参考电压与示波器的参考电压（通常接地）隔离。这使电源设计人员能够在存在大共模电压的情况下准确解析高带宽、高电压的差分信号。泰克已开发出一项新技术(IsoVu)，该技术使用电隔离在高带宽内提供同类探头中优秀的共模抑制性能。
与用于测量高压信号的高带宽传统差分探头相比，隔离性和高频性相结合的IsoVu探头为电源设计人员提供更精确的测量结果。应用案例包括：
开关模式电源设计
宽禁带GaN和SiC设备的功率FET设计/分析
逆变器设计
电机驱动设计
BCI或ESD测量
电流分流器测量
更低共模噪声，更多详细信息
IsoVu技术采用光纤供电和光模拟信号路径，以在测量系统和DUT之间实现完全的电隔离。由于支持探头在共模电压下独立浮动，隔离可大大降低共模干扰。
与4、5或6系列MSO相结合，IsoVu提供一种高效、可靠的方式解决快速参考转换的高带宽差分信号，从而使您能够花费更少的时间进行各种“盲目设计”工作：
电源中的浮动测量
通过分流电阻测量电流
调试ESD和EMI敏感性问题
断开接地回路
带宽范围内的高差分电压
对于传统差分探头，您必须在高带宽和高电压之间做出选择。IsoVu探头采用屏蔽同轴电缆和隔离功能，提供高带宽和±2500V的差分电压范围。
第二代IsoVu TIVP探头提供200 MHz、500 MHz和1 GHz的一系列带宽，以适合您的预算并构建具有特定项目所需性能的工作平台。
采用节省空间设计的创新技术
第二代IsoVu探头提供与我们的原始IsoVu探头相同的带宽、共模抑制性能和电压范围，但尺寸仅为其1/5，且去除单独的控制器盒。紧凑的探头和示波器连接器中含激光器和模拟电子技术。较之原始IsoVu探头，第二代光隔离探头还具有：
DC增益精度更佳
更好的阶跃响应特性
更多内置量程
连接简单，性能更高
IsoVu探头端部具有一系列可提供高性能和可及性的连接件和附件。
例如，MMCX连接器是经济的、可广泛使用的连接器，可提供稳定的免手持的测试点，并提供优秀的带宽和共模抑制。其坚固的金属主体屏蔽中心导线，并最大程度地减小接地环路面积，从而将干扰降至最低。
其他附件也可用于使探头端部适应多种连接方式。对于需要大于±250V差分电压的应用，还可另外提供0.100""和0.200""间距的方针端部。
不使用探头时，传感器探头在探头SMA连接器处具有1MΩ和50Ω可切换终端。此功能可以有效地向任何兼容示波器添加隔离通道。"
| 型号 | 带宽 | 差分电压 | 共模电压 | 共模抑制比 | 光纤电缆长度 |
| TIVP02 | 200 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 2米 |
| TIVP02L | 200 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 10 米 |
| TIVP05 | 500 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 2 米 |
| TIVP05L | 500 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 10 米 |
| TIVP1 | 1 GHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 2 米 |
| TIVP1L | 1 GHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 10 米 |
电源上的浮动测量
在半桥功率转换器中进行高压测信号测量具有挑战性，因为参考测量的源端或集端会快速上下震荡。SiC 和 GaN FET 等宽禁带器件甚至更难测量，因其可以在几纳秒内切换到高电压。快速变化的共模电压所产生的噪声会泄漏到差分测量中，并隐藏 VGS 和 VDS 的真实情况。IsoVu 探头具有无与伦比的全带宽共模抑制性能，通常一次即可让信号的真实情况一览无余。 |  |
 | 通过分流电阻测量电流
通过测量分流电阻两端的差分电压可轻松获得准确的电流测量值。但由于受到共模电压的影响，这会是非常严峻的挑战。IsoVu 凭借其高共模电压量程和高共模抑制能力，能完成其他产品不能完成的测试。 |
调试 ESD 问题
如果超出功能测试范围来解决 ESD 故障根本原因，可能会不尽如人意。使用传统电探头时，即使示波器位于法拉第笼外，ESD 放电也会耦合到探头中并沿电缆向下传播至示波器。示波器上看到的任何波形均不能代表测试点实际发生的情况。但受益于光学隔离技术，IsoVu 第 2 代探头可以防止耦合，并且可以在 ESD 和 EFT 测试期间提供更准确的 DUT行为，而不仅仅是简单的系统测试。 |  |
